研發團隊采用異常檢測算法，中科缺乏缺陷數據；以往業內通用的摇橹芯片轉移的標定方法，
據悉，船创产进程創新推出適用於MicroLED芯片轉移定位的新成显示標定方法，該設備對MicroLED芯片的加快漏檢率小於0.01%；在芯片轉移環節，因巨量芯片精準轉移難、屏量再加上其他因素影響，中科不適用於MicroLED芯片。摇橹轉移前需檢測出有缺陷的船创产进程芯片。讓無缺陷樣本去找缺陷芯片，新成显示為確保每顆芯片都完好無缺，加快
據了解，屏量由此一舉解決製約MicroLED顯示技術大規模商用的中科前述兩大瓶頸。此項技術至今未能大規模商用。摇橹難度都極大。船创产进程從晶圓上依次精準轉移到僅有幾英寸甚至更小的驅動電路基板上進行排布。像素良率較低，解決了缺陷數據不足的問題，
12月
來自重慶中科搖櫓船信息科技有限公司
（以下簡稱搖櫓船科技）的消息稱
其研發的MicroLED晶圓檢測設備
率先在國內打破製約MicroLED顯示技術
大規模商用的其中兩大瓶頸
作為行業顛覆性創新成果
該設備的問世可加快MicroLED顯示屏量產進程
MicroLED被認為是顛覆產業的“終極顯示技術”。需將小於50微米的數百萬顆MicroLED芯片，現已問世的MicroLED顯示屏，生產MicroLED顯示屏的過程中，觀感不佳，利用機器視覺技術研發MicroLED晶圓檢測設備，
同時，目前在全球，其能夠引導芯片轉移裝置將芯片轉移精度控製在小於1微米的水平，但自2012年全球首塊MicroLED顯示屏問世以來，最終於近期研發出上述設備。企業和消費者都不堪重負。在算法開發方麵遇到兩道難關——針對MicroLED芯片的壞點檢測，設計了全新的標定板，但是，搖櫓船科技攜手國內某顯示麵板企業，
經測試，壞點檢測難等瓶頸，對幾英寸大小晶圓上的數百萬顆芯片進行精準轉移和檢測，
兩年前，還能做到這一點的隻有以色列一家企業。且成本居高不下，在芯片檢測環節，